Computed Electron Micrographs And Defect Identification
Bemærk venligst, at den normale 14 dages fortrydelsesret ophører ved modtagelse af adgang til e-bogen.
Produkt beskrivelse
Computed Electron Micrographs And Defect Identification
Oplysninger om tilgængelighed
Vælg variant af e-bog i højre side, for at se tilgængelighedsoplysninger.
Detaljer
- ISBN13 9780444601476
- Sider 410
- Udgivet 2012
- Forlag North Holland
- Sprog Engelsk